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半導體/IC測試解決方案

IC測試分類機 SoC 測試系統

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Chroma 3180 八站邏輯測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1545

Chroma 3180 八站邏輯測試分類機有著高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產治具相容，順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外，可調式的壓測力和位置校正以及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時保持或提升產能的良率。
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Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1208

Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機是一臺可提供大量且多個IC測試的分類機。該設備可提供多種封裝方試的IC測試，且支持1/2/4 sites的測試需求。另外，由于可靠的機構及功能設計，也讓該設備能提供更高的產出及降低設備當機率，3160-C能更有效提升生產力并縮短更換kit部件的時間，且主動式溫控系統（ATC）更可提供待測物-55°C to 150°C的測試環境。
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Chroma 3160 終端測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：991

Chroma 3160 終端測試分類機是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下，機臺量測之重復性，并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外，其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低
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Chroma 3112 晶片測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1482

Chroma 3112 晶片測試分類機其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要求，多重檢查功能裝置可降低待測物發生異常的損壞。
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Chroma 3111 桌上型單站測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1119

Chroma 3111 桌上型單站測試分類機具備遠端功能可于任何地點透過網路連接方式進行控制，3111可用軟體設定JEDEC料盤的分配以及進行工程測試，在60公分平方的空間里發揮大的效用以節省時間和成本，簡易操作的系統介面（Windows™）提供一各快速且容易的設定方式，可簡化流程并提高效率。
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Chroma 3110-FT 三溫測試分類機

更新時間：2023-12-24

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瀏覽量：2135

Chroma 3110-FT 三溫測試分類機三溫測試分類機同時包含預溫區，可改善測試時間及產出;配有2個自動分料盤及2個手動分料盤，在僅1.4平方米的空間發揮的IC分料能力以節省成本與時間。
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Chroma 3110 雙用單站測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1991

Chroma 3110 雙用單站測試分類機 3110 不但適用于系統功能檢測，也同時具備終端電性測試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試系統上的所有測試程式，旨在提供一個全能的解決方案。
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Chroma HDAVO 高性能混和訊號解決方案

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1307

Chroma HDAVO 高性能混和訊號解決方案具有任意波形發生器（awg）和 digi zer （dgt）功能。該模塊的儀器板上有8個 awg 和8個數字化器，可以分配到3680 soc 系統中的任何通用插槽。大120mhz 的儀器帶寬和密度，可以滿足各種設備類型的性能要求。
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