美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發(fā)儀(VST)是具有1GHz瞬時帶寬的雙通道8.5 GHzPXI矢量信號收發(fā)儀(VST)。該VST將兩個矢量信號發(fā)生器和兩個矢量信號分析儀組合成一個雙槽PXIExpress儀器。PXle-5860不僅具備高密度、快速的測量速度和小巧的生產(chǎn)測試儀器組成結(jié)構(gòu),同時還擁有研發(fā)級盒式儀器的靈活性和高性能。可使用VST對蜂窩和無線標準(例如，Wi-Fi7和5GNR)執(zhí)行誤差矢量幅度(EVM)測試。通過PXle-5860的通道密度、頻率覆蓋范圍和帶寬可用性，您還可以為各種半導體和電子生產(chǎn)應用執(zhí)行多站點和多通道測試。

RF發(fā)生器頻率范圍: 50 MHz 至 8.5 GHz

RF發(fā)生器瞬時帶寬: 1 GHz

RF分析儀頻率范圍: 50 MHz 至 8.5 GHz

RF分析儀瞬時帶寬: 1 GHz

發(fā)生器調(diào)諧時間（典型）: 150 us

I/O Type: RF

美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發(fā)儀(VST)采用創(chuàng)新的射頻直采架構(gòu)，儀表體積縮小一半，射頻性能不妥協(xié)。

?雙通道、高帶寬

1臺儀器提供2個矢量信號源和2個矢量信號分析儀功能，支持50MHz–8.5GHz 超寬頻段 和1GHz瞬時帶寬 ，輕松覆蓋Wi-Fi 7、5G/6G 通信等需求。

?射頻直采架構(gòu)優(yōu)勢

創(chuàng)新射頻儀表設(shè)計，射頻直采架構(gòu)，大大簡化射頻前端設(shè)計，無需本振，頻率調(diào)諧更快，且沒有本振泄漏和邊帶鏡像問題。

• 頻率設(shè)定時間: ≤150µs

• 幅度設(shè)定時間(<最終值0.1dB): 27µs

?信號質(zhì)量優(yōu)勢

?模塊化設(shè)計，靈活擴展

僅需2個PXIe槽位 ，相同機箱大小可以提供更高測試密度，適配產(chǎn)線批量測試，MIMO測試、多DUT并行驗證等場景 。

?開放軟件生態(tài)

原生支持 LabVIEW、Python、C#，集成 RFmx測量套件實現(xiàn)調(diào)制信號生成和分析，一鍵生成標準化測試報告；

?利用雙通道完成Cross Correlation提升EVM測試結(jié)果

通過控制PXIe-5860的2個獨立的射頻通道（相當于2臺寬帶射頻信號分析儀），利用NI前端技術(shù)測量超寬帶信號的真實被測設(shè)備（DUT）的EVM，以消除所獲得的射頻信號中的不相關(guān)噪聲，同時可計算由待測設(shè)備產(chǎn)生的噪聲和損傷引起的真實EVM，可以實現(xiàn)更準確的EVM測量，并具有比單一射頻接收機更高的性能，提升約2dB。該方法已在實際項目中成功應用。

硬件配置：

軟件界面：

?Wi-Fi 7產(chǎn)線測試：320 MHz超寬帶信號并行測試，EVM指標 低至-48 dB ；

美國NI PXIe-5860 雙通道RF PXI矢量信號收發(fā)儀(VST)集成了信號生成和分析功能。PXIe-5860具有兩個獨立的TX/RX通道，支持最高8.5GHz的測試頻率和1GHz的信號帶寬。憑借優(yōu)良的RF性能和解調(diào)能力，該設(shè)備是Wi-Fi設(shè)備生產(chǎn)測試的理想選擇。

我們可以演示一臺VST上完成兩個站點的并行大幅提升測試效率、提高單位小時產(chǎn)量（UPH）并節(jié)省測試成本。一臺VST 實現(xiàn)雙站點測試，在演示程序中，測試時間得到優(yōu)化，如CHP 總測試時間為3ms，IM3總測試時間為 3.76ms等，該方法已在部分量產(chǎn)項目中得到應用。

硬件配置：

軟件界面：