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半導體/IC測試解決方案

IC測試分類機 SoC 測試系統(tǒng)

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Chroma 3650-CX SoC測試系統(tǒng)

更新時間：2023-12-24

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Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)

更新時間：2023-12-24

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Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)軟體測試環(huán)境CRISP（Chroma Integrated Software Plat form），是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機臺管理模組。
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Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)

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Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)在設(shè)計其架構(gòu)時，應用先進的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描鏈測試模組、類比測試模組等等選配，以確保符合未來多年的測試需求。
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致茂 Model 3680 先進SoC/模擬測試系統(tǒng)提供靈活的配置和廣泛的覆蓋范圍，以高度兼容性測試不同類型的設(shè)備。3680測試系統(tǒng)可靈活地在24個通用插槽內(nèi)部署多達2048數(shù)字通道管腳的數(shù)字信號，其數(shù)字性能高達1Gbps，大的默認256MW向量內(nèi)存
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