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Bruker熒光/紅外光譜儀

簡(jiǎn)要描述：Bruker熒光/紅外光譜儀是第一個(gè)商業(yè)化的便攜式微區(qū)X射線熒光光譜儀，設(shè)計(jì)用于滿足對(duì)的和貴重的物品如考古和藝術(shù)品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)成分分析的需求。

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廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2023-12-26
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　　Bruker熒光/紅外光譜儀是第一個(gè)商業(yè)化的便攜式微區(qū)X射線熒光光譜儀，設(shè)計(jì)用于滿足對(duì)的和貴重的物品如考古和藝術(shù)品進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)成分分析的需求。

　　Bruker熒光/紅外光譜儀可以對(duì)Na(11)-U(92)之間的所有元素進(jìn)行多元素同時(shí)分析，空間分辨率可以達(dá)到70微米。測(cè)量采用非破壞、非接觸式方法，調(diào)查過(guò)程中不會(huì)損害任何物品。30分鐘之內(nèi)就可以在現(xiàn)場(chǎng)安裝和操作布魯克BrukerARTAXX射線熒光光譜儀。操作布魯克BrukerARTAXX射線熒光光譜儀惟一需要的就是正常供電。根據(jù)應(yīng)用要求及可用預(yù)算，有幾種配置好的光譜儀可供選擇，這些配置具備不同的功能和用戶舒適度。
Bruker熒光/紅外光譜儀

　　Bruker熒光/紅外光譜儀的特點(diǎn)：第四代XFlash®SDD硅漂移探測(cè)器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)，不需要液氮，沒(méi)有任何消耗。分辨率優(yōu)于165eVatMnKa100Kcps。優(yōu)于145eV分辨率探測(cè)器可選。靈活的設(shè)計(jì)，樣品檢驗(yàn)時(shí)可以不受空間、樣品尺寸限制。X-Y-Z三維自動(dòng)定位跟蹤樣品臺(tái)，防碰撞保護(hù)，可以自動(dòng)完成點(diǎn)、線、面掃描功能。配有各種靶材的低功率X射線光管、CCD相機(jī)、微聚焦多孔毛細(xì)管鏡、XYZ樣品臺(tái)、激光定位系統(tǒng)。微聚焦多孔毛細(xì)管鏡與準(zhǔn)直管相比強(qiáng)度提高1000倍以上。根據(jù)應(yīng)用要求不同，可提供多種配置。應(yīng)用于文物保護(hù)、文物修復(fù)、考古、藝術(shù)品、筆跡鑒定、書畫、刑偵、材料研究、電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域。

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